1）應(yīng)盡量縮短引腳的連線，所需連接的元件（如電感）盡量靠近器件引腳的根部；
2）將高頻元件布局在DUT板的一個小范圍內(nèi)，并遠(yuǎn)離其他元件；
3）盡量做到一點(diǎn)接地，防止高頻信號影響地線；
4）被測器件電源端應(yīng)有接地電容，防止高頻信號通過電源干擾其他外圍元器件和V/I源；
5）器件的輸入輸出端除加規(guī)定的電解電容接地外，還要在電解電容上并聯(lián)合適的濾波電容；
6）特別情況下在相關(guān)V/I源的SENSE線中串入1K電阻，減少高頻信號對V/I源的干擾；
7）有閾值測量的輸入端對地接入高頻電容，可以保證掃描信號的質(zhì)量；
8）所有電容，離器件引腳越近越好，包括電容的地。
1）POWER插座中定義了5個地線AGND，PCB布板時(shí)可將這5個點(diǎn)連在一起，并采用較粗的線寬，推薦在正反兩面將空白空間鋪滿AGND敷銅；
2）DUT板上的插座外殼和電纜的屏蔽層是相連的，所以在設(shè)計(jì)PCB時(shí)一定要把插座的外殼和AGND連通，否則屏蔽效果會變差；
3）在大電流的測試中FORCE線應(yīng)該有足夠的線寬（通常建議按大于2A/50 mil線寬設(shè)計(jì)PCB），盡量避免采用對穿孔；
4）允許一根CBIT線同時(shí)控制多個繼電器，但其總電流不能超過100mA（一般繼電器的工作電流都是mA級的，也就是說一根CBIT線能同時(shí)控制20個繼電器的開合）。
1）PCB板是漏電的最重要的原因，選用高質(zhì)量的板材是測試小電流的前提；
2）在布板時(shí)盡量拉大焊盤間的距離；
3）在PCB布線時(shí)應(yīng)在正反兩面用GUARD線將FORCE和SENSE線完整地包圍起來，構(gòu)成等電位屏蔽環(huán)，防止與其他不同電位點(diǎn)之間的漏電；
4）為防止PCB板線間漏電，采用飛線其實(shí)是又簡單又有效的方法。
1）一定要用英文輸入法寫代碼，并且需要區(qū)分大、小寫；
2）聲明的變量一定要賦初值（例如：int i=0;）；
3）描述測試參數(shù)時(shí)，一定要特別注意指向正確的函數(shù)；
4）如果是V1.1.0.3以前版本（包括V1.1.0.3）的系統(tǒng)軟件，如果用到DIO板，需要在程序里加入“#include DIO.h”語句。如果同時(shí)用到QTMU板，則QTMU板的版本一定要在V1.3以上；
5）切記：系統(tǒng)中，電壓單位缺省是V，電流單位缺省是A，頻率單位缺省是KHz，時(shí)間單位缺省是us；
6） 保存測試結(jié)果的數(shù)組，對于VI源要定義成float型一維數(shù)組，數(shù)組長度大于等于4；對于ACSM，數(shù)組長度要大于10000；QTMU的類型需要定義成double類型，數(shù)組長度等于4。例外：DIO板不同的函數(shù)返回值類型不同，具體如下：DIO板讀取RAM內(nèi)pattern運(yùn)行結(jié)果函數(shù)――GetSerialPatternResult()返回值類型為DWORD型，十進(jìn)制整數(shù)。
7）在進(jìn)行電壓或電流量程切換時(shí)，建議在Disable或Disconnect的狀態(tài)下進(jìn)行，避免在切換量程時(shí)產(chǎn)生電壓或電流尖峰；
8）大功率器件編程時(shí)，建議把小負(fù)載參數(shù)和大負(fù)載參數(shù)分成2個函數(shù)，這樣即便因?yàn)榻佑|不良而導(dǎo)致小負(fù)載輸出fail時(shí)，不會再繼續(xù)運(yùn)行大負(fù)載輸出的測試，保證了測試的安全性。
1）如錯誤提示“Cannot open include file: "astdef.h"”。請檢查include是否添加Accotest根目錄下的include文件夾。
2）如錯誤提示“Cannot open file "Ast2k.lib"”。請檢查Lib是否添加Accotest根目錄下的Lib文件夾。
3）如錯誤提示“Cannot open include file: "windows.h"”。請檢查include是否添加VC軟件自帶include庫（VC6.0對應(yīng)路徑：C:\Program Files\Microsoft Visual Studio\VC98\MFC\INCLUDE ；VC2005對應(yīng)路徑：C:\Program Files\Microsoft Visual Studio 8\VC\PlatformSDK\Lib）。
4）如錯誤提示“cannot open file "LIBCMTD.lib"”。請檢查Lib是否添加VC軟件自帶Lib庫（VC6.0對應(yīng)路徑：C:\PROGRAM FILES\MICROSOFT VISUAL STUDIO\VC98\LIB；VC2005對應(yīng)路徑：C:\Program Files\Microsoft Visual Studio 8\VC\PlatformSDK\include）。
通常情況下，當(dāng)測試參數(shù)和測試函數(shù)體數(shù)目相同，且一一對應(yīng)時(shí)，測試參數(shù)的顯示、測試順序是一致的，由CParam定義。
但，當(dāng)2個以上的測試參數(shù)指向同一個測試函數(shù)體時(shí)，有時(shí)顯示順序和測試順序可能會不一致。樣例如下：
我們定義了3個測試體：Void test_A();
Void test_B();
Void test_C();
同時(shí)我們又定義了四個測試參數(shù)：
CParam:a,b,c,d;
在對四個測試參數(shù)做描述時(shí)，我們把參數(shù)a指向了test_A()，把b和c指向了test_B()，參數(shù)d指向了test_C()。如果b和c在test_B()的先后順序就是先b后c。那么我們的測試順序和屏幕顯示順序就是一致的a→b→c→d。如果在test_B中，我們先編寫了參數(shù)c的代碼然后編寫了參數(shù)b的代碼。那么在顯示時(shí)的順序仍舊是a→b→c→d，但實(shí)際測試順序卻變成了a→c→b→d。
【注意】需要說明的是，test_A，test_B，test_C在程序中的位置和順序?qū)y試和顯示順序是沒有影響的。
【建議】在編寫程序時(shí)，特別注意test_A, test_B, test_C在程序段中的位置關(guān)系，盡量保證測試順序和顯示的順序一致。這樣做的好處是直觀，思路清晰，方便對源的調(diào)用。
如果沒有掃描參數(shù)，單工位和多工位程序是完全相同的，區(qū)別在于使用不同的config文件，由config文件來控制是單工位測試還是多工位測試。讀出測試結(jié)果時(shí)，多工位程序通常采用循環(huán)語句讀取，數(shù)據(jù)第一位是site1的，第二位是site2的。。。以此類推。比如下面一段程序：
for(i=0 ; i<siteID ; i++)
{}
其中siteID是要測試的工位數(shù)。當(dāng)siteID=4時(shí)就是四工位賦值，通過上面的一段代碼可以把存放在數(shù)組adresult[4]中的數(shù)據(jù)讀出來。如測試的結(jié)果是a,b,c,d，adresult[4]={a,b,c,d};那么adresult[0]=a就是site1的測試結(jié)果；同理，adresult[1]=b是site2的值；adresult[2]=c是site3的值；adresult[3]=d是site4的值。
不建議客戶自己修改config文件，如果需要改動，建議請供應(yīng)商幫忙修改。
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