2019年度第一期“集成電路測試技術與產品應用開發研討會”于5月27日至5月31日在北京華峰測控技術股份有限公司北京總部召開。

會上，來自全國各器件生產廠家、元器件檢測篩選中心的一線技術人員，共同就當今半導體行業測試技術的熱點話題展開討論與分享。北京華峰測控技術股份有限公司ATE市場部經理劉惠鵬，根據近年來在大功率器件交直流一體化測試上積累的經驗，以常見的MOSFET為例，詳細講述了設備是如何一次實現直流、時間、UIS、Rg、Ciss、Coss、Crss全參數測試的。同時分享了大功率IPM器件的解決方案和華峰公司在未來新材料半導體測試領域的預研成果。

作為研討會的第一個主題，劉惠鵬所講演的“功率器件動態參數測試技術”這一題目，引起了全部參會人員的極大興趣，會后提問交流環節長達30分鐘，有些問題甚至深入到了華峰的專利技術，可謂擦出了不少“火花”，精彩連連！

集成電路的測試和篩選，安全性格外的重要。如何安全的使用測試設備，如何安全的對器件的電參數進行檢測，甚至在檢測失效時如何合理的進行問題分析和定位。本次研討會針對這些問題，由華峰測控有著多年測試實戰經驗的技術支持工程師周昊鵬、于松濤，以自己最擅長的領域分別講述了“如何安全有效的測試大功率電源管理類器件”和“如何安全有效的測試CMOS4000電路”兩個話題。

隨著國內半導體行業的飛速發展，測試對象的復雜程度與日俱增，同時也對測試設備提出了更高的要求。本次研討會上，華峰測控針對STS6100大規模數字集成電路測試系統上的高級編程語言進行了講解，有了這種底層高級開發語言，可以更方便的讓測試工程師根據器件參數的具體要求實現測試，在測試設備便捷性的基礎上增加靈活性，擺脫固有測試參數的局限。

STS8207S作為全新的模擬器件測試機，在運算放大器的測試上繼續著華峰精益求精、追求極致的特點。面對更多高精度的運算放大器、儀表放大器以及差分放大器等器件，華峰測控的工程師在研討會上分享了近幾年的工作成果，從了解器件特點和參數入手，針對不同測試對象的特點選擇合理的測試方案，再根據現有測試設備、儀器儀表的能力實現測試方案。

每當有真實測試樣例的分享，參會人員都聽的格外認真專注。

本次研討會的順利召開離不開廣大用戶的鼎力支持，我們將一如既往的分享最新研發成果，讓我們相約金秋再見！